在新材料研發(fā)、半導體制造、醫(yī)藥化工、地質礦產等眾多領域，物相鑒定、晶體結構解析、薄膜性能表征是把控產品質量、推動技術突破的核心環(huán)節(jié)。作為材料表征領域的主流精密設備，X 射線衍射儀憑借非破壞性、高精度的檢測特性，已成為各大實驗室與工業(yè)產線質檢環(huán)節(jié)不可少的核心分析工具。
一、什么是 X 射線衍射儀？
X 射線衍射儀（簡稱 XRD）是利用 X 射線在晶體材料中產生的衍射效應，采集樣品的衍射圖譜，進而解析材料物相組成、晶體結構、晶粒尺寸、殘余應力等微觀信息的精密分析儀器。其核心原理基于布拉格衍射定律：當 X 射線照射到晶體樣品時，不同晶面會在特定角度產生衍射信號，通過系統(tǒng)采集、解析這些信號，即可反推材料的微觀結構與物相特征。
從常規(guī)粉末樣品的定性定量分析，到薄膜、塊體、纖維等特殊樣品的深度表征，再到原位環(huán)境下的動態(tài)過程監(jiān)測，X 射線衍射儀的應用場景已覆蓋科研院所、高校實驗室、新能源、半導體、冶金、制藥等多個行業(yè)，是材料科學研究與工業(yè)質量控制的核心支撐設備。
二、束蘊儀器攜手布魯克，打造高端 XRD 解決方案
作為專業(yè)的實驗室分析儀器服務商，束蘊儀器（上海）有限公司深耕精密檢測設備領域，代理推出德國布魯克 AXS 公司全新 D8 ADVANCE 達芬奇 X 射線衍射儀，以創(chuàng)新的光路設計、極致的檢測精度與全面的分析能力，為國內用戶提供高效、可靠的材料分析整體解決方案。
這款 D8 ADVANCE X 射線衍射儀搭載多項布魯克zhuan利技術，突破了傳統(tǒng) XRD 設備光路切換繁瑣、應用場景受限、檢測效率偏低的痛點，兼顧粉末衍射、薄膜分析、微區(qū)表征等多元需求，是適配多行業(yè)、全類型樣品的高端分析平臺。
三、四大核心技術優(yōu)勢，重新定義 XRD 使用體驗
1. 雙光路全自動切換，多場景應用無需人工對光
D8 ADVANCE 采用布魯克專屬發(fā)明的 TWIN-TWIN 光路設計，可在 Bragg-Brentano 聚焦幾何與平行光幾何之間全自動切換，全程無需人工對光調試。聚焦幾何模式適配粉末樣品的高精度定性定量分析，平行光模式則支持不良形狀樣品、涂層與薄膜的掠入射 GID、反射率 XRR 分析。
設備同時搭載 TWISTTUBE 技術，用戶僅需 1 分鐘即可完成線光源到點光源應用的切換，輕松覆蓋常規(guī)粉末分析、薄膜表征、織構、應力、微區(qū)分析等多元場景，徹底告別光路互換、重復對光的繁瑣操作，大幅提升設備使用效率。
2. 高精度測角儀，保障全譜數(shù)據(jù)可靠性
設備搭載 Theta/theta 立式測角儀，2Theta 角度覆蓋 - 110° 至 168° 寬范圍，角度精度可達 0.0001 度。布魯克 AXS 可保證全譜范圍內每一個衍射峰的測量峰位與標準峰位誤差不超過 0.01 度，為物相精準鑒定、點陣參數(shù)精確測量、晶體結構精修等高精度分析需求提供穩(wěn)定可靠的數(shù)據(jù)基礎。
3. 旗艦級陣列探測器，效率與靈敏度雙重提升
設備配備 LYNXEYE 系列陣列探測器，可大幅提升檢測信號強度，顯著提高設備使用效率與探測靈敏度。其中旗艦款 LYNXEYE XE-T 能量色散探測器，支持采集 0D、1D 和 2D 數(shù)據(jù)，適配從 Cr 到 Ag 的所有波長，能量分辨率優(yōu)于 380 eV。
該探測器可在零強度損失下實現(xiàn)鐵熒光的高效過濾，無需加裝金屬濾波片與二級單色器，避免數(shù)據(jù)出現(xiàn)殘余 Kβ、吸收邊等偽影，同時兼具高計數(shù)率與優(yōu)異的角分辨率，是各類 X 射線衍射與散射應用的高適配性檢測方案。
4. 動態(tài)光束優(yōu)化，全角度數(shù)據(jù)質量均一穩(wěn)定
布魯克獨有的動態(tài)光束優(yōu)化（DBO）功能，通過馬達驅動發(fā)散狹縫、防散射屏與可變探測器窗口的自動同步，尤其在低 2θ 角度區(qū)間可提供出眾的數(shù)據(jù)質量。該功能全系列適配 LYNXEYE 探測器，為低角度介孔材料測量、小角散射等特殊應用提供穩(wěn)定的檢測表現(xiàn)。
四、覆蓋 15 + 分析場景，適配全類型樣品
依托 DIFFRAC.SUITE 與 TOPAS 軟件平臺，D8 ADVANCE 可實現(xiàn)多維度的材料分析能力，核心應用包括：
- 常規(guī)粉末分析：物相定性 / 定量分析、結晶度及非晶相含量測定、無標樣定量、結構精修與解析、點陣參數(shù)精確測量、微觀應變與晶粒尺寸分析
- 高級結構分析：織構及 ODF 分析、殘余應力檢測、對分布函數(shù)（PDF）分析、小角散射、原位動態(tài)過程分析
- 薄膜與涂層分析：掠入射衍射、X 射線反射法、高分辨率 X 射線衍射、倒易空間掃描，支持納米級至微米級厚度薄膜的相鑒定、厚度測定、應變與組分分析
無論是粉末、塊狀、纖維、片材等常規(guī)樣品，還是非晶、多晶、外延薄膜等特殊樣品，D8 ADVANCE 均可提供高質量的分析結果，適配材料科學、化學、物理、地質、醫(yī)藥、半導體等多領域的研究與檢測需求。
五、選擇束蘊儀器，享受專業(yè)全流程服務
束蘊儀器（上海）有限公司作為布魯克 AXS 相關產品的授權代理商，不僅為用戶提供原廠正品的 D8 ADVANCE X 射線衍射儀，更配套專業(yè)的技術支持與售后服務，從設備選型、安裝調試到操作培訓、后期維護，全程為用戶的檢測工作保駕護航，助力科研機構與企業(yè)用戶提升分析效率，加速技術研發(fā)與產品升級。
常見問題解答
Q1：布魯克 D8 ADVANCE X 射線衍射儀主要適用于哪些行業(yè)與樣品類型？
A：該設備廣泛適用于高校、科研院所、新能源、半導體、冶金、地質、醫(yī)藥化工等行業(yè)，可檢測粉末、塊狀、纖維、片材、薄膜（非晶、多晶、外延）等幾乎所有類型的固體樣品。
Q2：切換不同的檢測應用時，需要人工調試光路嗎？
A：不需要。設備搭載 TWIN-TWIN 光路系統(tǒng)，可在聚焦幾何與平行光幾何之間全自動切換，無需人工對光；搭配 TWISTTUBE 技術，線光源與點光源應用的切換僅需 1 分鐘，大幅降低操作門檻與時間成本。
Q3：LYNXEYE XE-T 探測器相比傳統(tǒng)探測器有什么優(yōu)勢？
A：LYNXEYE XE-T 是能量色散型陣列探測器，兼具 0D、1D、2D 數(shù)據(jù)采集能力，適配多種靶材波長；能量分辨率優(yōu)異，可無損失過濾熒光信號，無需額外濾波片或單色器，避免數(shù)據(jù)偽影，同時擁有高計數(shù)率與出色的角分辨率，檢測效率與靈敏度均有顯著提升。
Q4：設備可以進行原位分析嗎？
A：支持。D8 ADVANCE 可搭配對應原位附件，實現(xiàn)不同環(huán)境條件下的動態(tài)過程監(jiān)測，滿足材料相變、反應過程等動態(tài)研究需求。
更新時間：2026-07-09
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